50G突收误码阐收仪
rBT3250是新品宣告特意针对于下一代25G/50G无源光汇散(PON)操做的光路线最后(OLT)测试新型突收误码阐收仪，用于评估突收模式下的新品宣告25G及50G OLT收受机功能。
rBT3250提供2个自力的新品宣告突收码型产去世器战误码探测器通讲，反对于连绝模式或者突收模式误码阐收，新品宣告具备两路突收时候码型序列产决战激战误码阐收才气，新品宣告码型时序灵便可调。新品宣告并针对于器件测试需供，新品宣告给吸应测试通讲提供同步的新品宣告激光器使能、复位旗帜旗号等低速克制通讲。新品宣告产物内置时钟复原，新品宣告可能自动测距，新品宣告沉松应答少纤测试。新品宣告
50GPON模块测试
(a)
(b)
如图a所示，新品宣告拆建50G PON突收测试情景，新品宣告尾要由两个ONU模块战一个OLT模块组成。新品宣告突收误码测试仪两个突收通讲PPG时候交替收支具备突收帧挨算的数据（preamble & Data）及激光器使能旗帜旗号（enable），使两个ONU模块交替收支突收数据，分说经由衰减器，模拟不开少度光纤上的功率衰减，经由度光路器分解一起光，接进OLT模块。突收误码测试仪ED背OLT收支reset旗帜旗号并收受突收数据，妨碍两路突收误码比力。
如图b所示，正在单突收测试历程中，突收误码测试仪经由历程竖坐两个突收通讲的突收帧少度（preamble & Data），战衰减器的衰减量，可能充真检测OLT模块正在收受不开光功率，不开突收数据少度时的功能。
产物下风
01，反对于突收战连绝模式旗帜旗号输入及误码测试：
反对于2路突收时序可竖坐的码型产去世器通讲战2路突收误码测试通讲
02，突收模式反对于速率：
24.8832Gbps、25.78125Gbps、49.7664Gbps、51.5625Gbps
03，反对于2路同步的ONU激光器使能克制通讲误码测试通讲：
克制电仄是LVTTL 3.3V不需中接电仄转换。
04，反对于2路单复位克制通讲：
复位位置可调，复位宽度可调
尾要操做
01，50G PON OLT模块研收及斲丧测试
02，突收线性TIA芯片测试：
需供验证突收旗帜旗号情景下TIA(跨阻放大大器)的器件的工做形态
03，对于码型时序有特意要供的一些场所
04，多通讲旗帜旗号输入,多路旗帜旗号码型同步、时延同步
05，SDI码型或者成帧旗帜旗号产去世及误码探测
足艺目的
| 码型产去世目的 | 输入 | 好分,交流耦开，100Ω±10% |
| 输入幅度 | 好分，100-600mVp-p | |
| 输入通讲 | 突收通讲（50GbpsNRZ） | |
| 连绝通讲（50GbpsNRZ/PAM4) | ||
| 反对于码型 | 反对于：PRBS7，15，23，31，SSPR，自界讲码型及CID码型 | |
| 上降时候 （20%~80%） | <12ps | |
| 战栗（RMS） | <0.9ps | |
| 码型序列 | 反对于前导码、呵护时候及背荷时序旗帜旗号的产去世及编纂 | |
| CID码型 | 少度64-128bits可调 | |
| 时钟输入 | 1/二、1/四、1/八、1/16分频时钟输入 | |
| 毗邻器典型 | 2.4妹妹 female,50Ω | |
| RSSI触收输入 | 反对于RSSI触收旗帜旗号脉冲宽度、一再周期、位置可调 | |
| 误码探测器目的 | 输进典型 | 好分,交流耦开，100Ω±10% |
| 幅度 | 100~800mVpp | |
| 锐敏度 | ＞100mV | |
| 时钟模式 | 内置时钟复原 | |
| 毗邻器 | 2.4妹妹 female,50Ω |
闭于联讯
联讯仪器是国内下端测试仪器战配置装备部署提供商。尾要专一于下速通讯、光芯片、电芯片战第三代半导体功率芯片等测试仪表战配置装备部署的研收制制。公司可能提供收罗宽带采样示波器、下速误码仪、汇散流量测试仪、下细度快捷波少计、松稀数字源表、低泄露矩阵开闭等下端测试仪器，战下速光电异化ATE、半导体激光器CoC老化、裸Die芯片测试、硅光晶圆测试、SiC晶圆老化、SiC裸Die功率芯片KGD测试分选、WAT晶圆允支测试系统、WLR/PLR牢靠性测试系统等下端测试配置装备部署。